机译:InGaN / GaN多量子阱发光二极管中少数载流子陷阱的深层瞬态光谱测量过程中的观察
机译:观察深层瞬态光谱过程中p型GaAsN中少数载流子电子的俘获
机译:通过瞬时光电导测量研究n型Cz硅中的少数载流子俘获
机译:金属有机化学气相沉积法生长的快速热退火SiO_2覆盖的n型GaAs层中电子陷阱的深层瞬态光谱研究
机译:用于确定半导体器件中陷阱参数的深层瞬态光谱法(DLTS)
机译:极紫外瞬态吸收光谱法探测硅锗合金中超快的载热和俘获
机译:利用深能级瞬态光谱研究N型硅中子和2 mEV电子损伤的比较